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Wired, Weird：

不良シーケンサの修理――配慮のない設計が招く必然の故障

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設計初期から物理情報を活用せよ：

複雑なSoCでのタイミング収束を短期に済ませる秘訣

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USB Type-Cの登場で評価試験はどう変わる？（4）：

USB 3.1／Type-Cの受信耐性評価

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Design Ideas アナログ機能回路：

1個のICでデバウンス対応のスイッチを構成

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リニアテクノロジー LT3089：

1.2〜36Vの入力電圧範囲を備えたレギュレーター

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日本NI VB-8034：

5種の機能を統合したソフトウェアベース計測器

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STマイクロ：

4ボールWLCSPと完全な互換性を備えたEEPROM

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USB Type-Cの登場で評価試験はどう変わる？（4）：

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特集「電源設計」

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DC/DCコンバータをはじめLDOレギュレータ、IGBT、ダイオードなどパワーデバイス関連の話題を集めました。

EDN Japan×EE Times Japan統合電子版バックナンバー

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アナログ

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アナログ・デバイセズ ADF4355：

6.8GHz帯まで動作するVCO内蔵PLLシンセサイザー

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パワー/電源

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1.2〜36Vの入力電圧範囲を備えたレギュレーター

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不良シーケンサの修理――配慮のない設計が招く必然の故障

ロジック / LSI

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複雑なSoCでのタイミング収束を短期に済ませる秘訣

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STマイクロ STUSB16：

USB Type-C/PD実装を可能にするインタフェースIC

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STマイクロ STM32F410：

動作時の消費電流を89μA／MHzまで低減したMCU

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Q&Aで学ぶマイコン講座（22）：

MCUとMPUの違いって何？

部品/材料

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パナソニック　AIS社：

伸縮自在で繰り返し使用できるフィルム状の材料

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SCREEN UP-5000S：

電子回路の量産に対応するPtE向け枚葉式印刷装置

センサー

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IDT ZOPT2202：

紫外線の光スペクトルを正確に検出する光センサー

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シリコン・ラボ Si1133／Si1153：

高精度UV測定と日光下性能に優れた光学センサー

テスト/計測

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日本NI VB-8034：

5種の機能を統合したソフトウェアベース計測器

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USB Type-Cの登場で評価試験はどう変わる？（4）：

USB 3.1／Type-Cの受信耐性評価

メモリ

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STマイクロ：

4ボールWLCSPと完全な互換性を備えたEEPROM

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EE Times Japan×EDN Japan 統合電子版：

フラッシュメモリの現在――電子版11月号

ワイヤレス

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東芝 TC7718FTG：

最大15Wの送電が可能なワイヤレス給電送電用IC

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NXP QN 9080：

バッテリー寿命を約2倍に延長するBLE SoC

ソフトウェア/開発環境

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設計初期から物理情報を活用せよ：

複雑なSoCでのタイミング収束を短期に済ませる秘訣

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2019年6月のマイルストーンに向けて：

新・製品安全規格「IEC 62368-1」の動向と移行方法

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村田製作所 LQP02HQシリーズ：

0402サイズで高いQ特性のチップインダクター

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リーダー電子 IPC-8600：

監視カメラの表示テストが可能なIPカメラテスター

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