ニュース
» 2017年02月09日 09時00分 UPDATE

テクトロニクス TekExpress:100GbE規格をカバーした自動テストソリューション

テクトロニクスは2017年1月、4レーンの100Gビットの電気インタフェースに対応した100Gビット イーサネット(GbE)自動テストソリューションを発表した。

[EDN Japan]

100GBASE-CR4、100GBASE-KR4、CAUI-4をサポート

 テクトロニクスは2017年1月、4レーンの100Gビットの電気インタフェースに対応し100Gビット イーサネット(GbE)自動電気テストソリューションを発表した。テストソフトウェア「TekExpress」の新しいソリューションとなる。

 同ソリューションは、同社の等価時間サンプリング・オシロスコープ「DSA8300型」やリアルタイム・オシロスコープ「DPO70000SX」シリーズに対応し、100GbEの電気バリデーションと特性評価を実施する。また、100GbEの主要な電気仕様となる100GBASE-CR4、100GBASE-KR4、CAUI-4をサポートした。

「100Gビット イーサネット自動電気テストソリューション」

 100GbEおよび400GbE規格では、相互運用性を確認するため、電気と光の両方の検証が要求される。同ソリューションは、光(100GBASE-SR4)と電気バリデーションの両方をカバーする総合的なIEEE 802.3bm、820.3bjソリューションを提供できるとした。

Copyright© 2017 ITmedia, Inc. All Rights Reserved.

RSSフィード

EDN 海外ネットワーク

All material on this site Copyright © 2005 - 2017 ITmedia Inc. All rights reserved.
This site contains articles under license from UBM Electronics, a division of United Business Media LLC.