メディア
ニュース
» 2018年01月25日 09時00分 公開

アンリツ MP2110Aオプション:PAM4解析など、光装置製造検査用測定器のオプション

アンリツは、光部品の製造検査用測定器「BERTWave MP2110A」のサンプリングオシロスコープ機能を強化するオプションを発表した。従来機能のBER測定とアイパターン解析に加え、トリガー信号生成、PAM4信号解析、ジッタ解析が1台で行える。

[EDN Japan]

クロックリカバリー、PAM4解析、ジッタ解析オプション

 アンリツは2018年1月、光部品の製造検査用測定器「BERTWave MP2110A」のサンプリングオシロスコープ機能を強化するオプションを発表した。従来機能のBER測定とアイパターン解析に加え、トリガー信号生成、PAM4信号解析、ジッタ解析が1台で行える。

製造検査用測定器「BERTWave MP2110A」

 新たに追加されたのは、「波形解析用クロックリカバリー(電気、光)」(オプション054)、「PAM4解析ソフトウェア」(オプション095)、「Jitter解析ソフトウェア」(オプション096)の3つのオプションだ。

 オプション054により、入力データ信号からトリガー信号の生成が可能になり、クロック源のない伝送装置でも波形観測が行える。安価な測定系でNRZ、PAM4の両方のクロック再生に対応できるため、設備投資費用の削減につながる。

 オプション095では、高速化のキーテクノロジーとなっているPAM4方式の光信号を解析できる。複雑な設定は不要で、簡単に評価結果を得ることができ、測定時間を短縮できる。

 また、オプション096では、TJ、DJ、RJなどジッタ成分の分離解析を高速かつ簡便に実施できる。アイマスク試験も同時に行えるため、測定時間も短縮化する。

 これらのオプションを搭載することで、光モジュールや光デバイス、Active Optical Cableなどを製造、検査する光部品関連メーカーでは、検査時間の短縮、歩留まり向上、設備投資の低減などにつながるとしている。

Copyright © ITmedia, Inc. All Rights Reserved.

RSSフィード

公式SNS

EDN 海外ネットワーク

All material on this site Copyright © ITmedia, Inc. All Rights Reserved.
This site contains articles under license from AspenCore LLC.