マイコン講座

「マイコン講座」の連載記事一覧です。

マイコン講座 不良解析編(3):

今回は「二次物理解析」であるPVCチェッカーと断面図解析(クロスセクション)を解説していく。また、主にマイコン製品の開発現場で用いられる不良解析手法であるEBテスター、FIBも参考情報として紹介する。

【菅井賢(STマイクロエレクトロニクス) , EDN Japan】()
マイコン講座 不良解析編(2):

マイコンメーカーが作成する「不良解析レポート」を理解するために必要な基礎知識の習得を目指す連載「マイコン講座 不良解析編」。今回は、不良位置を特定する解析について紹介していく。

【菅井賢(STマイクロエレクトロニクス) , EDN Japan】()
マイコン講座 不良解析編(1):

マイコンをより深く知ることを目指す新連載「マイコン講座」。今回から3回にわたって、マイコンメーカーが行っている「不良解析」を取り上げる。メーカーから送られてくる不良解析レポートの内容を理解するための、不良解析に関する基礎知識を紹介していく。

【菅井賢(STマイクロエレクトロニクス) , EDN Japan】()

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